是德科技將參加 AUTO TECH 2021 廣州國際汽車測試測量技術展覽會

2021 廣州國際汽車測試測量技術展覽會是 AUTO TECH 華南展六大專題展之一，將于2021年5月25日-27日在廣州保利世貿博覽館盛大舉辦，與車聯網技術展、新能源汽車技術展、自動駕駛技術展、汽車輕量化技術展以及汽車電子技術展等聯袂呈現。屆時將匯集全球500多家領先參展商向廣大汽車工程師展示先進的測試和質量控制技術產品；同時組委會邀請諸如廣汽、日產、豐田、本田、比亞迪、特斯拉、小鵬、東風、長安、上汽、吉利、通用、奔馳、寶馬 、大眾、蔚來、一汽、博世、大陸、麥格納、電裝、德賽西威等汽車OEM廠商及Tier 1 汽車零部件供應商的上萬名采購、技術工程師匯聚一堂，參加展會。

全球知名測試測量企業是德科技將攜重磅產品亮相ATUO TECH 2021 華南展并進行技術話題分享

展商名稱：是德科技 Keysight Technologies

展位號：A318A

是德科技是擁有超過 75 年專業技術經驗的市場領導者，公司從硅谷的車庫中開始創業，現在已經發展成為了一家在設計、測量和網絡安全情報研究等領域享譽全球的精英企業。率先提供種類豐富的產品，幫助全球客戶開發顛覆性的創新技術。是德科技數十年來一直堅持不懈地幫助客戶創造、創新和交付新產品。無論您是汽車 OEM、電子元器件供應商、半導體芯片組制造商、電池和充電基礎設施提供商還是合規性實驗室在，互聯汽車的整個生態系統中，是德都將提供層出不窮的解決方案。是德在電動交通，自動駕駛和互聯汽車三大應用方向上提供創新型解決方案，使技術更快更新地推向市場。

1.       C-V2X測試解決方案

l   是德科技C-V2X車聯網解決方案支持物理層，協議層和應用層的測試

l   支持對包含擁塞場景在內的車聯網真實場景進行模擬和測試，同時還支持用戶對場景的自定義

l   平臺將支持5G NR C-V2X的未來版本

是德科技C-V2X解決方案解決了兩個主要接口（Uu和PC5）的協議測試和功能測試。同時還提供Uu和PC5無線鏈路中使用的發射機和接收機RF測試，例如功率，功率，誤差矢量幅度（EVM），頻率精度，帶內發射，相鄰信道泄漏比（ACLR）等發射機特性已經包含靈敏度，最大輸入電平，相鄰信道選擇性在內的接收機特性。該方案兼容過往的4G LTE以及5G測試解決方案，實現投資的最大化，跟隨技術潮流的特點也讓它加快了市場新技術的部署。

2.       Scienlab CDS測試解決方案

l  支持直流和交流的充電模式測試

l  通過設置參數可以模擬EV和EVSE的不同特性，支持EV、EVSE以及EV和EVSE的連接一致性測試

l  支持以下標準，特別是符合IEC 61851-1 (PWM)以及符合 DIN SPEC 70121， ISO 15118 (PLC) ，CHAdeMO和 GB/T (CAN)

l  采用模塊化配置，可適用多種應用場景。

l  基于FPGA和實時操作系統，實現實時測試的能力

從汽車用途到實驗室綜合應用，是德科技針對各種場景提供模塊化的EV和EVSE充電系統測試環境，CDS可以模擬EV或者EVSE的充電通信，同時還可測量并檢查電氣參數是否符合標準。

3.       Scienlab電池測試系統

l  提供從電芯到電池模組，電池包的不同電壓級別的測試解決方案

l  利用ESD軟件，可同步記錄測量數據，實時進行電池的狀態監控以及數據分析

l  可實現每個通道的阻抗頻譜分析

是德科技提供了創新和靈活的Scienlab解決方案，用于各類儲能設備的測試驗證，針對汽車、工業應用中的電池單體、模塊、電池包以及電池管理系統（BMS），都可以使用是德科技的測試系統進行復雜和可靠的測試，配合Scienlab PC軟件Energy Storage Discover（ESD）可以實現客戶特定的性能、功能、老化和環境測試，當然也包括各種標準化的測試（ISO、DIN EN、SAE等）。

4.       汽車以太網測試方案

l  提供發射端，接收端，以及以太網鏈路測試的全面解決方案

l  測試符合100base-T1和1000base-T1標準

l  操作簡單，使用設置向導，可以快速進行設置、配置和測試

l  具有自動報告功能，可以生成全面的 HTML 格式的合格/不合格報告，包括裕量分析

5.       車載雷達測試解決方案

l  支持車載雷達信號分析和生成，可生成24GHz，77GHz和79GHz頻段信號

l  帶寬支持到2.5GHz~>5GHz

l  雷達目標模擬器可將頻率范圍擴至覆蓋76GHz~81GHz，可仿真4~300米的完整距離

6.       車載功率半導體動靜態參數測試分析儀

l  最高可表征650V，1.2kV以及1.7kV等級的分立元器件

l  支持SiC，GaN等第三代寬禁帶半導體材料器件測試

l  提供高帶寬測試探頭

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